簡易型原子力顯微鏡（AFM）是一種能夠提供高分辨率表面成像、測量以及表面力學(xué)性質(zhì)分析的先進(jìn)工具。相比傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡，AFM在觀察物體表面時(shí)具有更高的分辨率，甚至可以達(dá)到原子級別。因此，AFM不僅在基礎(chǔ)科學(xué)研究中具有重要應(yīng)用，還在材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域發(fā)揮著越來越重要的作用。
1.探針系統(tǒng)：這是AFM的核心部分，負(fù)責(zé)與樣品表面接觸并感知表面力。通常，簡易型AFM的探針由標(biāo)準(zhǔn)的鎢絲或石英針構(gòu)成，尖經(jīng)過精細(xì)加工，以確保高分辨率的成像能力。
2.樣品臺(tái)：樣品臺(tái)通常由高精度的電動(dòng)步進(jìn)驅(qū)動(dòng)，能夠在X、Y、Z三個(gè)方向上精確移動(dòng)樣品。為了保證探針與樣品表面之間的微小接觸，樣品臺(tái)需要具有非常精確的定位能力。
3.激光掃描系統(tǒng)：激光掃描系統(tǒng)通過照射激光束到探針的背面，并通過反射光的變化來實(shí)時(shí)監(jiān)測探針的高度變化。通過激光反射的強(qiáng)度變化，可以測量探針的位置變化，進(jìn)而反映樣品表面的特性。
4.控制系統(tǒng)：控制系統(tǒng)通常包括計(jì)算機(jī)和相應(yīng)的軟件，負(fù)責(zé)采集掃描數(shù)據(jù)并對數(shù)據(jù)進(jìn)行處理和分析。通過計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，可以實(shí)現(xiàn)掃描參數(shù)的設(shè)置、圖像的生成和數(shù)據(jù)的分析。
簡易型原子力顯微鏡的優(yōu)勢：
1.高分辨率：簡易型AFM可以達(dá)到納米級別的分辨率，甚至能夠分辨出原子級的表面特征。對于微觀材料的研究具有優(yōu)勢。
2.非破壞性：與傳統(tǒng)的電子顯微鏡相比，AFM的掃描過程不會(huì)對樣品造成破壞，尤其適用于易碎或敏感的樣品。
3.多功能性：簡易型AFM不僅可以進(jìn)行表面形貌的掃描，還可以進(jìn)行力學(xué)性質(zhì)的分析（如硬度、彈性等），并且能夠用于液體環(huán)境中的樣品觀察。
QQ：
郵箱：xusan@hzglp.com
傳真：
地址：杭州市濱江區(qū)江南大道3778號(hào)元天科技大廈A6004室
